FU Berlin Digitale Dissertation
Olaf Hahneiser : Numeric Simulation and Measuring of Microwave Reflexion on Crystal Silicium Numerische Simulation und Messung der Mikrowellenreflexion an kristallinem Silizicum
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Table of Contents Download the whole PhDthesis as a zip-tar file or as zip-File For download in PDF format click the chapter title Titelseite und Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung 2. Mikrowellenmeßtechnik 2.1 Ausbreitung der Mikrowellen 2.2 Mikrowellenreflexion 2.3 TRMC-Methode 2.4 FRMC-Methode 3. Siliziumoberfläche 3.1 Passivierung 3.2 Modell der Grenzfläche 3.3 Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit 4. Simulationsmodell 4.1 Halbleiter-Grundgleichungen 4.2 Modellierung des Volumens 4.3 Modellierung der Oberfläche 4.4 Randbedingungen 4.5 Lösen der Grundgleichungen 4.6 Wahl der Parameter 5. Meßergebnisse und Diskussion 5.1 n-dotiertes Silizium 5.2 p-dotiertes Silizium 6. Zusammenfassung 7. Anhang 7.1 Literaturverzeichnis 7.2 Symbolverzeichnis 7.3 Danksagung 7.4 Lebenslauf

More Information:
Online available:	http://darwin.inf.fu-berlin.de/1998/8/indexe.html
Language of PhDThesis:	german
DNB-Sachgruppe:	29 Physik, Astronomie
Date of disputation:	30-Jun-98
PhDThesis from:	Department Physik, Freie Universität Berlin
First Referee:	Prof. Dr. William Brewer
Second Referee:	Prof. Dr. D. Bräunig (TU Berlin)
Contact (Advisor):	brewer@physik.fu-berlin.de
Date created:	09-Dec-98
Date available:	23-Jun-99

 

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