Markus Holtmann

Effektive Beobachtung von zufälligen Funktionen unter besonderer Berücksichtigung von Ableitungen
(Text.PhDThesis)

Autor:	Holtmann, Markus
Geburtsdatum:	1971-05-31
Geburtsort:	Georgsmarienhütte
Email Adresse:	mholtmann@munichre.com
Titel der Dissertation in Deutsch:	Effektive Beobachtung von zufälligen Funktionen unter besonderer Berücksichtigung von Ableitungen
Betreuer:	Prof. Dr. Wolfgang Näther
Betreuer:
Betreuer:
Gutachter:	Prof. Dr. Wolfgang Näther
Gutachter:	Prof. Dr. Joachim Menz
Gutachter:	Prof. Dr. Jürgen Pilz
Gutachter:
Gutachter:
Sprache der Dissertation:	GER
Fileformat der Dissertation:	application/pdf
Filegrösse (MB):	1.19
Tag der Antragstellung:	2000-10-26
Tag der mündlichen Prüfung:	2001-06-14
Schlüsselwörter in Deutsch:	zufällige Funktionen, Versuchsplanung, Splineverfahren, Kriging, Ableitungssamples, Samplefunktionale, nichthermitesche Samples, gestörte Kovarianzmatrix
AbstractURL:	MathematikHoltmannMarkus534683.html
DissURL:	MathematikHoltmannMarkus534683.pdf
Abstract:	Es wird die Versuchsplanung für die Approximation zufälliger Funktionen untersucht, wobei sowohl deterministische Spline-, stochastisch-deterministische Krigingverfahren als auch Regressionsverfahren jeweils unter Verwendung von Ableitungssamples betrachtet werden. Dabei wird das mathematische Gerüst für den Beweis einer allgemeinen Äquivalenz zwischen Kriging- und Splineverfahren entwickelt. Für den in den praktischen Anwendungen wichtigen Fall der Verwendung endlich vieler nichthermitescher Samples wird ein Versuchsplanungsverfahren für zufällige Funktionen mit asymptotisch verschwindender Korrelation entwickelt. Ferner wird der Einfluß von Ableitungen auf die Varianz von (lokalen) Regressionsschätzern untersucht. Schließlich wird ein Verfahren zur Versuchsplanung vorgestellt, das durch Regularisierung mittels gestörter Kovarianzmatrizen Prinzipien der klassischen Versuchsplanung im korrelierten Fall nachahmt.
MD5-Prüfsumme:	cd0e328c9ef2b82332c309d9fc359363

len Messgröße der Defekte festgelegt wurde. Der Defekt EL6 ist das die 0.8 eV-PL-Emission bedingende und die Ladungsträgerlebensdauer determinierende Rekombinationszentrum. Die Lebensdauer wird durch mindestens ein weiteres Zentrum beeinflusst. Die atomare Struktur des EL6 wurde mit AsGa VAs und die des weiteren Zentrums mit Asi bestimmt. Mittels Wärmebehandlung kann die Ladungsträgerlebensdauer gezielt beeinflusst werden. Bei der Bildung und Annihilation sowie der Verteilung der Defekte EL2, EL6, VGa und der As-Ausscheidungen besteht eine wechselseitige Korrelation. Sowohl strukturelle Defekte als auch die Inkorporation von Dotierelementen, deren Atomradien deutlich kleiner sind als Ga und As, stellen beeinflussende Faktoren dar.